이번 포럼은 선문대 차세대반도체기술연구소가 주관하고 교육부와 한국연구재단이 후원했다.

MI(계측 검사) 기술은 미세구조를 계측(Metrology)과 검사(Inspection)하는 기술로 반도체와 디스플레이 기술이 발전하면 구조가 미세하게 되고 이런 구조의 불량을 방지하기 위해 측정과 검사의 중요성이 증가하고 있어 MI기술 분야가 차지하는 비중이 점차적으로 증가해 전체 공정 50%를 차지하고 있다.

이번 MI포럼은 기업, 연구소, 대학 등에서 50여 명의 전문가 참여했으며 SK하이닉스 이병호 상무가 나노반도체 MI기술현황에 대해 소개하고 미국 반도체 전문기업인 Wafer Master 유우식 박사가 PL과 Raman 기술을 응용한 웨이퍼 비파괴검사기술을 발표하며 국내 MI기술 발전을 위한 논의 등이 있었다.

선문대학교 차세대반도체기술연구소 김호섭 교수(기계ICT융합공학부)는 지난 2008년부터 국내외 MI와 관련 기술 전문가들과 포럼을 진행하고 있다.

국내 반도체와 디스플레이 기업인 삼성전자, 삼상디스플레이, SK하이닉스, 엘지전자, 엘지디스플레이 등이 2020년까지 새로운 공장 설립에 투자하는 비용이 50조원 이상으로 반도체와 디스플레이기업 뿐만 아니라 이를 기반으로 하는 인쇄전자 기업에게는 호재가 되며 전문 인력 수요가 증가할 것으로 보인다.

김호섭 소장 교수는 “이번 MI포럼을 통해 지역 중소기업체는 개발 방향 설정과 학생들은 진로와 취업방향 설정에 도움이 될 것으로 본다”고 말했다.